Tủ thử nghiệm môi trường Walk-in ZhongZhi CZ-A-10000(D～G)

Giới thiệu tủ kiểm tra môi trường CZ-A-10000(D～G)

Tủ nghiệm môi trường nhiệt độ và độ ẩm (Walk-in chamber) được cấu tạo từ bảng điều khiển, tủ điện, bảng điều khiển kho cách nhiệt, quạt gió cưỡng bức, thiết bị gia nhiệt, thiết bị tạo ẩm và tủ lạnh.

Tủ thử nghiệm này cung cấp dịch vụ thử nghiệm môi trường nhiệt độ và độ ẩm cho các sản phẩm quy mô lớn, hàng bán thành phẩm và sản phẩm hoàn thiện cho các nhà sản xuất. Ví dụ như máy tính đầu cuối, phụ tùng ô tô.

Điểm nổi bật của CZ-A-10000(D～G)

• Vỏ ngoài: Được thiết kế nhiều màu sắc khác nhau hoặc toàn bộ bằng thép không gỉ tùy theo thiết kế phía trong. Phần bên trong được làm bằng thép không gỉ SUS304.
• Cửa sổ quan sát: Sử dụng cửa sổ kính đa lớp hình chữ nhật để quan sát các sản phẩm thử nghiệm. Cửa sổ được trang bị thiết bị sưởi điện chống mồ hôi để ngăn ngừa sự hình thành giọt nước ngưng tụ.
• Bên trong được trang bị đèn chống nổ để quan sát rõ ràng điều kiện thử nghiệm sản phẩm. Đáy tủ thử nghiệm được trang bị tấm nhôm chống trượt đảm bảo an toàn khi sử dụng.
• Cửa được trang bị dây đai seal cách nhiệt kép để ngăn chặn hiệu quả sự rò rỉ nhiệt độ bên trong.
• Thiết bị sử dụng bộ lọc nước tinh khiết để lọc trực tiếp nước máy, dễ sử dụng và không cần thêm nước thủ công.
• Thiết bị sử dụng máy nén thương hiệu nhập khẩu, có ưu điểm tiết kiệm năng lượng, tiếng ồn thấp, tiêu thụ điện năng thấp và hiệu suất ổn định. Sử dụng môi chất lạnh bảo vệ môi trường (R23, R404a).
• Thiết bị được trang bị màn hình LCD nhập khẩu, hiển thị đồng thời giá trị đo, giá trị cài đặt và thời gian. Có chức năng lập trình đa đoạn để điều khiển nhiệt độ và độ ẩm nhanh chóng và chính xác.
• Có hai tùy chọn màn hình: TEMI 2700 với màn hình TFT LCD 7,5 inch và TEMI 880 với màn hình màu 5,7 inch. Cả hai đều có giao diện truyền thông RS-232/RS-485 và hỗ trợ thẻ nhớ SD.

Điều kiện và tiêu chuẩn thử nghiệm

• GJB150.5A-2009: Thử nghiệm sốc nhiệt
• GJB360B-2009: Thử nghiệm sốc nhiệt
• GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14: 2009: Thử nghiệm sốc nhiệt
• GB/T 2424.13-2002 / IEC 60068-2-33: 1971: Hướng dẫn thử nghiệm thay đổi nhiệt độ cho sản phẩm điện tử
• GB/T 2423.2-2008 / IEC60068-2-2-2008 / IEC60068-2-2-2: 2007: Thử nghiệm nhiệt độ cao
• GB/T 10589-2008: Điều kiện kỹ thuật buồng thử nghiệm nhiệt độ thấp
• GB/T 11158-2008: Điều kiện kỹ thuật buồng thử nghiệm nhiệt độ cao
• MIL-STD-883, JIS C 60068-2-14, JASO-D001, AEC-Q101: Thử nghiệm chu kỳ nhiệt độ